测试方法与系统说明

本次测试采用工业物理上海实验室的 SpecMetrix® Enhanced 实验室版系统，其搭载的 ROI 增强光学干涉测量技术，已纳入 ASTM D8331 国际标准，可对透明、有色或着色基材上的涂层进行亚微米级非接触式测量。

测试参数：

•  涂层折射率：1.55（标准预设）

•  波长范围：490–670 nm

•  测量方式：区域扫描，每块区域 100+ 测点平均

•  测试样品：客户提供 2 块 PCB 样品，每块选取上下两区域分别测量

测量结果与分析亮点：

•  样品一：上区域平均膜厚为 21.90μm，下区域为 21.09μm

•  样品二：上区域为 24.58μm，下区域为 21.70μm

结果显示：

1. 数据与客户切片法结果吻合度高，验证系统准确性

2. 重复性良好，区域差异在可接受范围内

3. 无破坏、快速出数、无需前处理，极大提升检测效率

4. ROI干涉技术对PCB等多孔、微结构材料表现出色

此外，SpecMetrix® 还可用于其他电子及半导体领域，例如：

•  UV/PI 绝缘涂层

•  柔性电路板（FPC）表面处理

•  光学薄膜、导热膜等新材料

•  电池隔膜、封装膜及粘结层测厚