比表面测试仪在太阳能电池行业的应用


来源:北京精微高博科学技术有限公司

[导读]  JW-DX比表面积测试仪采用专利号为20140320453.2的吸附法专利测试,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合粉体生产厂家的在线快速测定。

随着太阳能电池工艺水平的不断提高,太阳能电池的少子(少数载流子)寿命也不断增加,即少子的扩散长度不断增长。当少数载流子的扩散长度与硅片的厚度相当或超过硅片厚度时,背表面的复合速度对太阳能电池特性的影响就很明显。

 

为了提高转化效率,就得降低太阳能电池背表面的复合速度,提高长波光谱响应。铝背场(为了改善硅太阳能电池的效率,在p-n结制备完成后,往往在硅片的背面即背光面,沉积一层铝膜,制备P+层,称为铝背场。)的质量将直接影响太阳能电池的输出特性。

 

铝粉颗粒比表面越大,铝浆与硅片接触越好,越易于形成厚度均一的高质量铝背场。从而使太阳能电池的输出特性得以改善。那么如何保证金属粉体材料比表面积测试过程的科学性与结果的准确性呢?为此ASTM出台标准ASTM B922对金属粉末比表面测试做了详细的说明。

 

快速高效、精确规范的测试离不开性能优良的测试仪器,JW-DX系列金属粉体比表面快速测试仪,符合ASTM B922对检测设备的要求。JW-DX比表面积测试仪采用专利号为20140320453.2的吸附法专利测试,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合粉体生产厂家的在线快速测定

 

测试范围:

比表面测试范围:>0.0001m2/g,

重复精度:±1%

 

产品特性:

1、测试速度快,5分钟测试一个样品;

2、吸附峰的峰形尖锐,灵敏度大幅提高;

3、独立4个分析站,实现了多样品的无干扰、无差异测试;

4、外置式4站真空脱气机,避免污染测试单元。

 

精微高博(JWGB)成立于2004年,推出中国第一台静态容量法氮吸附仪,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”。十五年来专业从事比表面积及孔径分析仪、化学吸附仪、竞争性吸附仪、蒸汽吸附仪、真密度仪等物性分析设备的研究,是中国材料表征仪器的领先制造商,致力于向全球客户提供高质量、高易用性、高性价比的产品和服务解决方案。


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