IPB 2014 第十二届中国国际粉体加工/散料输送展览会于2014年10月14-16日在上海国际展览中心举行。大昌华嘉DKSH展台位于A区1108号，公司展出包括美国Microtrac、BEL、英国Freeman品牌有关于粉体研究的粉体粒度系列产品。
美国Microtrac S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。
Nanotrac Wave 纳米粒度仪主要技术特点：
• 采用最新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
• 专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
• 专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
• 专利的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度
BEL公司Mini-II 比表面及孔隙分析仪是一款采用容量法测定样品吸附特性的比表面和孔隙度分析仪，该仪器设计紧凑，分析精度高，操作简便，能够测定样品比表面积和孔径分布，配备三个样品测量通道，每一个通道都具有独立的压力传感器，能够同时测定三个样品。在分析站，仪器歧管系统和饱和蒸汽压测定都具备单独的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，实时测定样品的饱和蒸汽压。
欲了解更多，点击进入该公司展位>>
美国Microtrac S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。
Nanotrac Wave 纳米粒度仪主要技术特点：
• 采用最新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
• 专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
• 专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
• 专利的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度
BEL公司Mini-II 比表面及孔隙分析仪是一款采用容量法测定样品吸附特性的比表面和孔隙度分析仪，该仪器设计紧凑，分析精度高，操作简便，能够测定样品比表面积和孔径分布，配备三个样品测量通道，每一个通道都具有独立的压力传感器，能够同时测定三个样品。在分析站，仪器歧管系统和饱和蒸汽压测定都具备单独的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，实时测定样品的饱和蒸汽压。
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