飞纳扫描电镜颗粒统计分析测量系统PhenomParticleMetric——研究颗粒和粉末的强大工具使用基于飞纳台式扫描电镜（PhenomSEM）的ParticleMetric颗粒测试工具，以*快、*简便的方式实现颗粒的可视化分析，是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜，加上ParticleMetric颗粒系统的颗粒图像分析功能，为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案ParticleMetric能够使用户根据需要，随时获取所观测颗粒的面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度（椭圆）、凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据，*终实现ParticleMetric加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。飞纳扫描电镜颗粒工具ParticleMetric的功能1.可进行以下颗粒分析颗粒尺寸范围：100nm~0.1mm颗粒探测速度：高达1000个/分钟颗粒测量属性：大小、形状、数量2.可以测量的颗粒参数面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆）凸壳体、重心、像素点数、凸状物3.可以提供的图形显示按数量或体积的线性、对数、双对数点状图任何指定参数的散点图单个颗粒的SEM图像4.可以提供的图形输出Word版本docx格式的报告，TIFF格式的图像CSV文件，离线分析的项目文件（.PAME）ProSuite的一部分飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric工具的优势1.加载ParticleMetric软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像，方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据；2.全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统ParticleMetric软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果，为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据；3.ParticleMetric软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关联系和趋势；4.直接由Phenom获取图像，识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒，关联颗粒物的特征，比如直径、充实度、纵横比和凹凸度；5.便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化；6.无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考；7.Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样**程度视觉化；8.附有高清图片的统计学数据飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件适合的应用领域化妆品行业；食品行业；化工行业；制药行业；陶瓷；颗粒以及表面涂层；颗粒状添加剂；环境颗粒；滤器/筛网公司